1. 在高壓高阻的測(cè)試環(huán)境中,為什么要求儀表接"G"端連線?
在被測(cè)試品兩端加上較高的額定電壓,且絕緣阻值較高時(shí),被測(cè)試品表面受潮濕,污染引起的泄漏較大,示值誤差就大,而儀表"G"端是將被測(cè)試品表面泄漏的電流旁路,使泄漏電流不經(jīng)過儀表的測(cè)試回路,消除泄漏電流引起的誤差。
2. 為什么測(cè)絕緣時(shí),不但要求測(cè)單純的阻值,而且還要求測(cè)吸收比,極化指數(shù),有什么意義?
在絕緣測(cè)試中,某一個(gè)時(shí)刻的絕緣電阻值是不能全面反映試品絕緣性能的優(yōu)劣的,這是由于以下兩方面原因,一方面,同樣性能的絕緣材料,體積大時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻小,體積小時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻大。 另一方面,絕緣材料在加上高壓后均存在對(duì)電荷的吸收比過程和極化過程。 所以,電力系統(tǒng)要求在主變壓器、電纜、電機(jī)等許多場(chǎng)合的絕緣測(cè)試中應(yīng)測(cè)量吸收比-即R60s和R15s的比值,和極化指數(shù)-即R10min和R1min 比值,并以此數(shù)據(jù)來(lái)判定絕緣狀況的優(yōu)劣。
3. 在測(cè)容性負(fù)載阻值時(shí),絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流大小與測(cè)量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系,為什么?
絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流的大小可反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。當(dāng)被測(cè)試品存在電容量時(shí),在測(cè)試過程的開始階段,絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的高壓源要通過其內(nèi)阻向該電容充電,并逐步將電壓充到絕緣電阻測(cè)試儀的輸出額定高壓值。顯然,如果試品的電容量值很大,或高壓源內(nèi)阻很大,這一充電過程的耗時(shí)就會(huì)加長(zhǎng)。其長(zhǎng)度可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積決定(單位為秒)。請(qǐng)注意,給電容充電的電流與被測(cè)試品絕緣電阻上流過的電流,在測(cè)試中是一起流入絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的。絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)得的電流不僅有絕緣電阻上的分量,也加入了電容充電電流分量,這時(shí)測(cè)得的阻值將偏小。
如:額定電壓為5000V的絕緣電阻測(cè)試儀,若其短路輸出電流為80μA(日本共立產(chǎn)),其內(nèi)阻為5000V/80μA=62MΩ
如:試品容量為0.15μF,則時(shí)間常數(shù)τ=62MΩ×0.15μF≈9 (秒)即在18秒時(shí)刻,電容上的充電電流仍有11.3μA。
由此可見,僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA=442MΩ,若正常絕緣為1000MΩ,則顯示的測(cè)得絕緣值僅為306MΩ。這種試值已不能反映絕緣值的真實(shí)狀況了,而且試值主要是隨容性負(fù)載容量的變化而改變,即容量小,測(cè)試阻值大;容量大,測(cè)試阻值小。
所以,為保障準(zhǔn)確測(cè)得R15s,R60s的試值,應(yīng)選用充電速度快的大容量絕緣電阻測(cè)試儀。我國(guó)的相關(guān)規(guī)程要求絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA、1 mA、2 mA、5 mA,要求高的場(chǎng)合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測(cè)試儀。
4.在校測(cè)某些型號(hào)絕緣儀表"L"、"E"兩端額定輸出直流高壓時(shí),用指針式萬(wàn)用表DCV檔測(cè)L、E兩端電壓,為什么電壓會(huì)跌落很多,而數(shù)字式萬(wàn)用表則不會(huì)?
用普通的指針式萬(wàn)用表直接在絕緣電阻測(cè)試儀"L"、"E"兩端測(cè)量其輸出的額定直流電壓,測(cè)量結(jié)果與標(biāo)稱的額定電壓值要小很多(超出誤差范圍),而用數(shù)字萬(wàn)用表則不會(huì)。這是因?yàn)橹羔樖饺f(wàn)用表內(nèi)阻較小,而數(shù)字萬(wàn)用表內(nèi)阻相對(duì)較大。指針式萬(wàn)用表內(nèi)阻較小,絕緣電阻測(cè)試儀L-E端輸出電壓降低很多,不是正常工作時(shí)的輸出電壓。但是,用萬(wàn)用表直接去測(cè)絕緣電阻測(cè)試儀的輸出電壓是錯(cuò)誤的,應(yīng)當(dāng)用內(nèi)阻阻抗較大的靜電高壓表或用分壓器等負(fù)載電阻足夠大的方式去測(cè)量。
5.能不能用兆歐表直接測(cè)帶電的被測(cè)試品,結(jié)果有什么影響,為什么?
為了人身安全和正常測(cè)試,原則上是不允許測(cè)量帶電的被測(cè)試品,若要測(cè)量帶電被測(cè)試品,不會(huì)對(duì)儀表造成損壞(短時(shí)間內(nèi)),但測(cè)試結(jié)果是不準(zhǔn)確的,因?yàn)閹щ姾?,被測(cè)試品便與其它試品連結(jié)在一起,所以得出的結(jié)果不能真實(shí)的反映實(shí)際數(shù)據(jù),而是與其它試品一起的并聯(lián)或串聯(lián)阻值。
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